MODUŁ PV TONGWEI TW415MAP-108-H-S MONO HALF CUT CZARNA RAMA

> Producent

Marka TW Solar należy do firmy Tongwei, która swoją aktywność biznesową prowadzi od 1984 roku. Tongwei jest jednym z największych na świecie producentów nowoczesnych technologii fotowoltaicznych.
Firma stworzyła grupę obejmującą cały łańcuch produkcyjny od produkcji polikrzemu poprzez ogniwa, aż do produkcji modułów. Dzięki temu firma ma pełen wpływ na stosowaną technologię oraz jakość produktów.

Tongwei zajmuje pozycję nr 1 na świecie w zakresie produkcji polikrzemu, który dostarcza również innym producentom modułów.
Tongwei wysunął się również na pozycję światowego lidera w produkcji ogniw PV.
Firma stale prowadzi prace badawczo-rozwojowe, czego efektem jest wprowadzanie do produkcji innowacyjnych rozwiązań technologicznych.

Wysoką jakość produktów firmy potwierdza jej obecność w rankingu Tier 1 Bloomberg.

> Charakterystyka modułu

Monokrystaliczny moduł fotowoltaiczny TW415MAP-108-H-S o mocy 415 W, wykorzystujący ogniwa typu half-cut oraz technologię multi-busbar. W module została zastosowana czarna rama z anodowanego stopu aluminium.
Charakteryzuje się ponadprzeciętnie wysoką sprawnością - na poziomie 21,3% oraz długoletnią 15 letnią gwarancją na produkt.

> Dlaczego warto wybrać ten produkt?

• Wysoka wydajność modułu, na poziomie 21,3%.
• Wysoka jakość i długi okres gwarancji - 15 lat.
• Liniowa gwarancja mocy modułu na 25 lat. Degradacja mocy w 1 roku <2%, kolejne lata 0,55%, a po 25 latach moc na poziomie 84,8% wartości pierwotnej.
• Niskie ryzyko mikropęknięć, dzięki zastosowaniu w procesie produkcyjnym bezstratnej technologii cięcia, zapewniającej gładką powierzchnię i brak uszkodzeń mechanicznych.
• Ogniwa half-cut
• Niska waga modułu, zaledwie 20,5 kg
• Technologia multi-busbar (MBB) wpływa na niższe ryzyko mikropęknięć, wolniejszą degradację modułu, a także na mniejsze straty.
• Niski uśredniony koszt wytworzenia energii LCOE (Levelized Cost Of Energy)
• Moduł wykazuje doskonałą odporność na śnieg (5400 Pa) i wiatr (2400 Pa).
• Niska utrata wydajności spowodowana zjawiskiem LID (Light Induced Degradation)